| 1 |
M.72NTP01.0 01.1 |
Menentukan Karakteristik Produk Nanomaterial yang Akan Dibuat |
| 2 |
M.72NTP01.0 02.1 |
Mendesain Struktur Nanomaterial Menggunakan Pemodelan Molekul secara Komputasi |
| 3 |
M.72NTP01.0 03.1 |
Memilih Metode Sintesis Nanomaterial |
| 4 |
M.72NTP01.0 04.1 |
Mendesain Proses Sintesis Nanomaterial |
| 5 |
M.72NTP01.0 05.1 |
Melaksanakan Sintesis Nanomaterial dengan Metode Reduksi Kimia |
| 6 |
M.72NTP01.0 06.1 |
Melaksanakan Sintesis Nanomaterial dengan Metode Gelasi Ionik |
| 7 |
M.72NTP01.0 07.1 |
Melaksanakan Sintesis Nanomaterial dengan Metode Sol-Gel |
| 8 |
M.72NTP01.0 08.1 |
Melaksanakan Sintesis Nanomaterial dengan Metode Deposisi |
| 9 |
M.72NTP01.0 09.1 |
Melaksanakan Sintesis Nanomaterial dengan Metode Presipitasi |
| 10 |
M.72NTP01.0 10.1 |
Melaksanakan Sintesis Nanomaterial dengan Metode Electrospinning |
| 11 |
M.72NTP01.0 11.1 |
Melaksanakan Sintesis Nanomaterial dengan Teknik Milling |
| 12 |
M.72NTP01.0 12.1 |
Melaksanakan Sintesis Nanomaterial dengan Laser ablation |
| 13 |
M.72NTP01.0 13.1 |
Melaksanakan Sintesis Nanomaterial Menggunakan Proses Homogenisasi |
| 14 |
M.72NTP01.0 14.1 |
Melaksanakan Sintesis Gelembung Nano (Nanobubble) |
| 15 |
M.72NTP02.0 01.1 |
Melaksanakan Analisis Ukuran dan Distribusi Nanopartikel Menggunakan Particle Size Analyzer (PSA) |
| 16 |
M.72NTP02.0 02.1 |
Melaksanakan Analisis Morfologi Menggunakan Scanning Electron Microscope (SEM) |
| 17 |
M.72NTP02.0 03.1 |
Melaksanakan Analisis Morfologi Menggunakan Transmission Electron Microscope (TEM) |
| 18 |
M.72NTP02.0 04.1 |
Melaksanakan Analisis Topografi Menggunakan Atomic Force Microscope (AFM) |
| 19 |
M.72NTP02.0 05.1 |
Melaksanakan Analisis Kristalinitas secara Differential Scanning Calorimetry (DSC) |
| 20 |
M.72NTP02.0 06.1 |
Melaksanakan Analisis Kristalinitas secara XRay Diffraction (XRD) |
| 21 |
M.72NTP02.0 07.1 |
Melaksanakan Analisis Kristalinitas secara Selected Area Electron Diffraction (SAED) |
| 22 |
M.72NTP02.0 08.1 |
Melaksanakan Analisis Sifat Termal secara Differential Scanning Calorimetry (DSC) |
| 23 |
M.72NTP02.0 09.1 |
Melaksanakan Analisis Sifat Optis secara Spektrofotometri Ultraviolet-Visible (UV-Vis) |
| 24 |
M.72NTP02.0 10.1 |
Melaksanakan Analisis Komposisi Menggunakan X-Ray Fluorescence (XRF) |
| 25 |
M.72NTP02.0 11.1 |
Melaksanakan Analisis Komposisi Menggunakan Scanning Electron Microscope with Electron Dispersive X-Ray (SEM-EDX) |
| 26 |
M.72NTP02.0 12.1 |
Melaksanakan Analisis Interaksi Antar Molekul secara Spektrofotometri Fourier Transform Infrared (FTIR) |
| 27 |
M.72NTP02.0 13.1 |
Melaksanakan Analisis Interaksi Antar Molekul secara Spektrofotometri Raman |
| 28 |
M.72NTP02.0 14.1 |
Melaksanakan Analisis Luas Permukaan Menggunakan Surface Area Analyzer (SAA) |
| 29 |
M.72NTP02.0 15.1 |
Melaksanakan Analisis Pori Menggunakan Surface Area Analyzer (SAA) |
